一．相差镜检法(Phasecontrast)

　　在光学金相试样切割机的发展过程中,相差镜检术的发明成功,是近代金相试样切割机技术中的重要成就.我们知道,人眼只能区分光波的波长(颜色)和振幅(亮度),对于无色通明的生物标本,当光线通过时,波长和振幅变化不大,在明场观察时很难观察到标本.

　　相差金相试样切割机利用被检物体的光程之差进行镜检,也就是有效地利用光的干涉现象,将人眼不可分辨的相位差变为可分辨的振幅差,即使是无色透明的物质也可成为清晰可见.这大大便利了活体上海金相切割机的观察,因此相差镜检法广泛应用于倒置金相试样切割机.

　　相差金相试样切割机的基本原理是,把透过标本的可见光的光程差变成振幅差,从而提高了各种结构间的对比度,使各种结构变得清晰可见.光线透过标本后发生折射,偏离了原来的光路,同时被延迟了1/4λ(波长),如果再增加或减少1/4λ,则光程差变为1/2λ,两束光合轴后干涉加强,振幅增大或减下,提高反差.在构造上,相差金相试样切割机有不同于普通光学金相试样切割机两个特殊之处:

　　1.环形光阑(annulardiaphragm)位于光源与聚光器之间,作用是使透过聚光器的光线形成空心光锥,焦聚到标本上.

　　2.相位板(annularphaseplate)在物镜中加了涂有氟化镁的相位板,可将直射光或衍射光的相位推迟1/4λ.分为两种:

　　1.A+相板:将直射光推迟1/4λ,两组光波合轴后光波相加,振幅加大,标本结构比周围介质更加变亮,形成亮反差(或称负反差).

　　2.B+相板:将衍射光推迟1/4λ,两组光线合轴后光波相减,振幅变小,形成暗反差(或称正反差),结构比周围介质更加变暗

　　二．暗视野观察(Darkfield)

　　暗视野实际是暗场照明发.它的特点和明视野不同,不直接观察到照明的光线,而观察到的是被检物体反射或衍射的光线.因此,视场成为黑暗的背景,而被检物体则呈现明亮的象.

　　暗视野的原理是根据光学上的丁道尔现象,微尘在强光直射通过的情况下,人眼不能观察,这是因为强光绕射造成的.若把光线斜射它,由于光的反射,微粒似乎增大了体积,为人眼可见.

　　m..m暗视野观察所需要的特殊附件是暗视野聚光镜.它的特点是不让光束由下至上的通过被检物体,而是将光线改变途径,使其斜射向被检物体,使照明光线不直接进入物镜,利用被检物体表面反射或衍射光形成的明亮图象.暗视野观察的分辨率远高于明视野观察,最高达0.02—0.004

三．明视野观察(Brightfield)

　　明视野镜检是大家比较熟悉的一种镜检方式,广泛应用于病理、检验,用于观察被染色的切片,所有金相试样切割机均能完成此功能.

　　四.偏光金相试样切割机(Polarizingmicroscope)

　　偏光金相试样切割机的特点

　　偏光金相试样切割机是鉴定物质细微结构光学性质的一种金相试样切割机.凡具有双折射的物质,在偏光金相试样切割机下就能分辨的清楚,当然这些物质也可用染色发来进行观察,但有些则不可能,而必须利用偏光金相试样切割机.

　　偏光金相试样切割机的特点,就是将普通改变为偏光进行镜检的方法,以鉴别某一物质是单折射(各向同行)或双折射性(各向异性).

　　双折射性是晶体的基本特性.因此,偏光金相试样切割机被广泛地应用在矿物,化学等领域.在生物学和植物学也有应用.

　　五．微分干涉称镜检术(DifferentialinterferencecontrastDIC)

　　微分干涉镜检术出现于60年代,它不仅能观察无色透明的物体,而且图象呈现出浮雕壮的立体感,并具有相衬镜检术所不能达到的某些优点,观察效果更为逼真.

　　原理;

　　微分干涉称镜检术是利用特制的渥拉斯顿棱镜来分解光束.分裂出来的光束的振动方向相互垂直且强度相等,光束分别在距离很近的两点上通过被检物体,在相位上略有差别.由于两光束的裂距极小,而不出现重影现象,使图象呈现出立体的三维感觉.

　　DIC金相试样切割机的物理原理完全不同于相差金相试样切割机,技术设计要复杂得多.DIC利用的是偏振光,有四个特殊的光学组件:偏振器(polarizer)、DIC棱镜、DIC滑行器和检偏器(analyzer).偏振器直接装在聚光系统的前面,使光线发生线性偏振.在聚光器中则安装了偌玛斯斯棱镜,即DIC棱镜,此棱镜可将一束光分解成偏振方向不同的两束光(x和y),二者成一小夹角.聚光器将两束光调整成与金相试样切割机光轴平行的方向.最初两束光相位一致,在穿过标本相邻的区域后,由于标本的厚度和折射率不同,引起了两束光发生了光程差.在物镜的后焦面处安装了第二个偌玛斯斯棱镜,即DIC滑行器,它把两束光波合并成一束.

　　这时两束光的偏振面(x和y)仍然存在.最后光束穿过第二个偏振装置,即检偏器.在光束形成目镜DIC影像之前,检偏器与偏光器的方向成直角.检偏器将两束垂直的光波组合成具有相同偏振面的两束光,从而使二者发生干涉.x和y波的光程差决定着透光的多少.光程差值为0时,没有光穿过检偏器;光程差值等于波长一半时,穿过的光达到最大值.于是在灰色的背景上,标本结构呈现出亮暗差.为了使影像的反差达到最佳状态,可通过调节DIC滑行器的纵行微调来改变光程差,光程差可改变影像的亮度.调节DIC滑行器可使标本的细微结构呈现出正或负的投影形象,通常是一侧亮,而另一侧暗,这便造成了标本的人为三维立体感,类似大理石上的浮雕

　　六:荧光金相试样切割机(FluorescenceMicroscopy)

　　荧光镜检术是用短波长的光线照射用荧光素染色过的被检物体,使之受激发后而产生长波长的荧光,然后观察.

　　优点:

　　·检出能力高(放大作用)

　　·对上海金相切割机的刺激小(可以活体染色)

　　·能进行多重染色

　　用途:

　　·物体构造的观察——荧光素

　　·荧光的有无、色调比较进行物质判别——抗体荧光等

　　·发荧光量的测定对物质定性、定量分析

　　六.浮雕相衬金相试样切割机(RC)

　　1975年,RobertHoffman博士发明

　　2002年,专利到期,各金相试样切割机厂家纷纷推出采用以自己名义命名的RC技术产品

　　原理

　　斜射光照射到标本产生折射、衍射,光线通过物镜光密度梯度调节器产生不同阴影,从而使透明标本表面产生明暗差异,增加观察对比度

　　特点

　　提高未染色标本的可见性和对比度;

　　图象显示阴影或近似三维结构而不会产生光晕;

　　可检测双折射物质(岩石切片、水晶、骨头);

　　可检测玻璃,塑料等培养皿中的上海金相切割机,器官和组织;

　　聚光镜的工作距离可以设计的更长;

　　RC物镜也可用于明场,暗场和荧光观察

本文关键词:金相试样切割机,观察方法