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挑战光学极限,原子力金相试样切割机红外分子定位技术 |
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挑战光学极限,原子力金相试样切割机(AFM)和红外光谱相结合。
原子力金相试样切割机帮助研究人员进行红外分子定位
原子力金相试样切割机,红外技术是由博士亚历山大Dazzi在巴黎南基大学。它使用作为吸收红外探测器对象在接触模式原子力金相试样切割机尖端。 这一突破性的技术使化学家,物理学家和上海金相切割机生物学家等研究人员有可能对上海金相切割机内的定位后,在10 1H -孵育铼羰基复合| IL。他们还利用本地化的核心没有任何跟踪自己的IR -签名和显示,分子内部的上海金相切割机核。
对上海金相切割机内分子的映射是一个很大的科学的挑战,既需要高灵敏度和纳米级别的分辨率
.红外光谱是非常有价值的化学成像
在中红外振动激发的情况下,没有漂白是诱发相对于什么是有机荧光观察在可见光或紫外线的范围
衍射极限的限制,在红外光学分辨率超过5 | IM。本文介绍了如何克服这一挑战是利用光学检测,而不是热。
博士Dazzi的研究一直在Anasys nanoIR系统的核心。 将来这种技术潜在nanoIR应用领域包括高分子共混物,多层膜和层压板,有机缺陷分析,组织形态和组织学,上海金相切割机内光谱和有机太阳能电池等等将极大的促进能源技术发展。
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