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岩样样品的孔隙率及表面粗糙度测量光学金相试样切割机应用 |
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岩样样品的孔隙率及表面粗糙度测量光学金相试样切割机应用 光截面法测定是观察(在有刻度尺的特殊金相试样切割机的目镜里)从侧面照明的膜层图象。本方法仅能用于平表面上产生的厚1~20微米的透明无色膜。精度为±5%。 评价阳极氧化膜厚度的涡流法是在检验的表面上放一个用这种方法确定的孔隙率也考虑了水中饱和时未渗入的孔隙。 当完整岩石样品不能粉碎时,应用于所有在烤炉烘干时不显著收缩的完全岩样。运用玻义耳定律能确定出样品的孔隙率和干密度。将测定含水量用过的两块试片,悬挂在直径足够大的烧杯里,以保证试片的底边置于水平面上5厘米的位置上。烧杯应当用带有橡皮管的密封盖盖紧。将装有试片的烧杯放在恒温箱里保温6小时。接着,迅速地将试片转移至U一个具塞的容器里称重。计算重量的增量占膜重的百分数。表面粗糙度(均匀性)的测定 通过光学的或其他适当的方法,测定出磷酸盐膜的表面粗糙度,来表示膜的均匀性。光滑、结晶细致的磷酸盐膜粗糙度低于1微米,而在租糙膜层的情况里,粗糙度可能会超过10微米。
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