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自动双折射测量仪器配套偏光金相试样切割机制造厂商 自动双折射测量系统已经使用了相当长时间(光盘.LCD工业),其中大部分是扫描系统。逐点对待测样品机械式扫描.并形成待测系统的偏振图。最新设计的测从系统不再进行机械扫描,并将这些系统编入成像双折射测量系统的目录 按照补偿技术的原理工作。线偏振光通过待测样品,双折射使其成为椭圆偏振,利用四分之一波片再次使之成为线偏振光,并利用旋转检偏器进行分析。如果用一个矩阵相机作为探测器,样品图像就可以形成在检偏器的各种位置,从而得到(样片)一个完整的横向可分辨偏振图 可以清楚地看到,透镜浇道口处双折射增大,并且,中心在浇道口的双折射沿径向逐渐减少。这类图像很容易识别和理解,是模压工艺中形成的。制造的标准设备可以分析100mm直径的表面,横向分辨率高达0.14mm,双折射测量的重复性是士0.lnm,测量时间少于1min。利用其他自动测量方法还可以测量平面和稍有弯曲的样品。强弯曲透镜需要另外方法,
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