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多功能荧光金相试样切割机技术采用多种光源设计-多种样品 |
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多功能荧光金相试样切割机技术采用多种光源设计-检测多种样品 荧光金相试样切割机技术采用透射光源,用较黑的过滤片除去照射光波,但这种方式很难获得足够亮的图像,尤其是许多材料由于高强度短波光的照射而发生褪色现象。 随着双色镜的发展,出现了许多重大进步,采用双色镜可以利用人射光来激发荧光物质。双色镜不仅可以反射短波光,也可以使长波光通过。 由于以下两种原因,人们降低了需额外添加过滤器除去照明光波的需求,其一,使用人射光源说明不能被样品吸收的光大部分都会扭失在成像透镜中,仅仅需要移除一小部分光;其二,双色镜本身可以实现此目的, 因为双色镜能将短波光反射回灯上并从成像透镜中除去。 一些样品本身具有荧光性质(自荧光物质),但大部分物体都需要使用荧光染色剂,下面将加以说明。 荧光金相试样切割机是最有效的特殊定位方法,荧光染料可以被附着在分子探针上以定位样品的特殊成分。 在食品材料领域中,最有用处的共聚焦金相试样切割机也同荧光方法一样,能够得到最佳效果。
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