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| 电粒度分析与金相试样磨抛机分析磨粉的粒度的特点 |
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电粒度分析与金相试样磨抛机分析磨粉的粒度的特点 光在各种微粒上的漫散射，是产生测量误差的原因之一(特别是检验轻度色散性磨粉时)。要消除这一缺陷，可在上述仪器中与光通道平行的平面上加装一个辅助全自动精密元件，这个无电元件和仪器的主要全自动精密元件面对面地安装。因为悬浮掖中光的漫射是扩散型的，也就是光的漫射强度在任何方向都是相等的，故接入辅助全自动精密元件就可校准仪器的示值。主要全自动精密元件和辅助全自动精密元件必须要选择其特性相一致的。上述全自动精密粒度分析法具有一系列优点，比较金相试样磨抛机分析法，包括分析时间大大缩短，能足够客观地评定待分析磨粉的粒度组成，以及令人满意的测量结果的重合性。但是，这种方法也有一些缺点，因而目前还在研制新的粒度组成分析法。尽管这些方法暂时还未在磨料磨异工业中得到广泛的应用
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