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| 纸面光学全幅分布测定纤维规格和面貌特征分布 |
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纸面光学全幅分布测定纤维规格和面貌特征分布光学全幅分布测定法 光学全幅分布测定法(opyi—cal profilometry)类似于探头扫描横过纸面的触针全幅测定法。在垂直分辨率类似于触针全幅测定仪时，水平分辨率(受光波性质的限制)大致可为1μm。在传感器与纸面之间没有物理接触，所以不会有对试样造成危险的可能性。这使得有可能对纸面作更快速扫描。光学全幅测定传感器有好几种型式。其中多数由于结构形状上的原因，对***大可测倾斜角有限制。倾斜角太高，从纸面反射的光将落在传感器头的合理口径之外。通常光学全幅分布测定仪提供比触针式全幅测定分布仪更快的扫描和更高的分辨率。但它们对描绘造纸涂布颜料的水平分辨率仍嫌不够。 触针全幅分布测定法 触针全幅分布测定法(stylus profilometry)包括使触针移动通过整个表面，同时测量触针的垂直偏移。该技术可提供出色的垂直分辨率(大约为lnm)。但用于纸张时，由于需要防止危害到纸面，水平分辨率一般约为lOμm。在触针针尖上只有弹簧加压的有限作用力，随着针尖半径的减小，针尖下的压力增加。多数触针制成90°坡口角，所以***大可测斜度为45°。还有触针装置的有限物理惯性。这导致必须使触针在测定垂直偏移前的水平移动之后能可靠地实现平衡。如果我们采用很慢的扫描速度，则这项技术可提供非常好的纸上纤维规格和面貌特征的分布状况图。
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