- 金相切割机-金相试样切割机
- QG-1金相试样切割机
- Q-2金相试样切割机
- QG-2岩相切割机
- Q-3A金相试样切割机
- QG-4A金相试样切割机
- QG-5A金相试样切割机
- QG-100金相试样切割机
- QG-100Z自动金相试样切割机
- QG-300三轴金相试样切割机
- ZQ-40无级双室自动金相试样切割机
- ZQ-50自动精密金相试样切割机
- ZQ-100/A/C自动金相试样切割机
- ZQ-150F无级三轴自动金相试样切割机
- ZQ-200/A无级三轴金相试样切割机
- ZQ-300F无级三轴自动金相试样切割机
- ZQ-300Z自动金相试样切割机
- ZD-500大型液压伺服金相试样切割机
- 金相磨抛机-金相试样磨抛机
- MPD-1金相试样磨抛机(单盘无级)
- MPD-2金相试样磨抛机(双盘单控)
- MP-3A金相试样磨抛机(三盘无级)
- MP-2A金相试样磨抛机(双盘无级)
- MPD-2A金相试样磨抛机(双盘无级)
- MPD-2W金相试样磨抛机(双盘无级)
- ZMP-1000金相试样磨抛机(单盘8试样)
- ZMP-2000金相试样磨抛机(双盘8试样)
- ZMP-3000 智能化金相试样磨抛机
- ZMP-1000ZS智能薄片自动磨抛机
- BMP-1000 半自动金相试样磨抛机
- BMP-2000 半自动金相试样磨抛机
- 金相镶嵌机-金相试样镶嵌机
- XQ-2B金相试样镶嵌机(手动)
- ZXQ-2金相试样镶嵌机(自动)
- AXQ-5金相试样镶嵌机(自动)
- AXQ-50金相试样镶嵌机(智能,一体机)
- AXQ-100金相试样镶嵌机(智能,一体机,双室)
- 金相抛光机-金相试样抛光机
- P-1单盘金相试样抛光机(Φ200,380V)
- P-1A单盘金相试样抛光机(Φ200,380V)
- P-2立式双盘金相试样抛光机(Φ200,380V)
- P-2A柜式双盘金相试样抛光机(Φ200,380V)
- LP-2双盘立式金相试样抛光机(Φ200,380V)
- PG-2A双盘柜式金相试样抛光机(Φ220,380V)
- PG-2C双盘立式金相试样抛光机(Φ220,380V)
- P-2T双盘台式金相试样抛光机(Φ220,380V)
- 金相预磨机-金相试样预磨机
- YM-1单盘金相试样预磨机(Φ200,380V)
- YM-2双盘金相试样研磨机(Φ230,380V)
- YM-2A双盘金相试样预磨机(Φ230,380V)
金相磨平机-金相试样磨平机
MPJ-35柜式金相试样磨平机(350*40*40)
MPJ-25台式金相试样磨平机(250*30*32)
MY-1光谱砂带磨样机(W100*L920)
MY-2A双盘砂带磨样机
- 进口金相制样设备
- 进口金相切割机
- 进口金相磨抛机
- 进口金相镶嵌机
- 进口金相显微镜
- 金相显微镜
- 4XB双目金相显微镜
- AMM-8/D/P/T/ST三目倒置金相显微镜
- 4XC/D/P/T/ST三目卧式金相显微镜
- AMM-200/D/P/T/ST三目正置金相显微镜
- 金相技术及金相耗材
- 金相案例
- 金相技术
- 金相镶嵌料
- 金相切割砂轮片
- 金相研磨膏
- 金相砂纸
- 金相抛光粉
- 金相抛光织物
- 公司简介
- 公司理念
- 联系我们
- 售后服务
- 金相新闻
- 金相友情链接
- 金相试样抛光机 洛氏硬度计
- 金相试样抛光机 万能试验机
- 电子试验机 金相试样抛光机
- 全自动精密抛光机 金相试样抛光机
- 圆度仪 轮廓仪 自准直仪
- 自准直仪 硬度计
- 生物显微镜 金相显微镜
- 金相试样抛光机 影像测量仪
- 上海研润光机科技有限公司前身是国家仪器技
- 术研究所,成立于2005年,是一家以研发、
- 生产、非标定制自动化生产检测设备,计算机
- 软件开发为主的高新技术企业。主导产品:材
- 料仪器、光学仪器、自动化生产检测设备等。
|
|
|
航海或航空工程中测量尺寸较大的工件的光学仪器 |
本站文字和内容版权为上海研润光学金相试样抛光机金相试样抛光机制造厂所有http://www.cnnoet.net;转载请注明出处 |
航海或航空工程中测量尺寸较大的工件的光学仪器经纬仪测量系统 用测量学的经纬仪来测量尺寸较大的工件,例如,在航海或航空工程中。用两个经纬仪,它们彼此的空间位置是明确的。在测量物体上有较容易的定位点,例如,拐角或附带的测量标志是定位的目标。通过经纬仪上的望远镜可实现瞄准。通过计算机取值可获得望远镜的竖直和水平角度坐标。通过三角计量,可计算出瞄准点的三维坐标。照相测量方法 照相测量方法也是起源于测量学的一项技术。对于测量大的物体,其应用与经纬仪测量系统相似。一个共同的特征是三维信息的计算,例如,需要获得附在工件表面的测量标志。应用一个或更多的照相系统,至少从三个位置成像测量物体。如果所获得标志的一般识别在照相机图像中是可能的,例如,在一个图像中的一个标志被惟一地分配到另一个图像中的一个标志,也就可能通过三角计量方法计算出标志的空间位置。为了使必需的点标志分配容易,它们可以包含一个单独的代码。干涉仪距离测量 干涉仪距离测量系统基于迈克逊干涉原理。从激光发出的光被分光镜分成测量光束和参考光束。参考光束被固定的三垂面反射镜反射(立体角),移动镜面上的测量光束沿着测量路径移动。与平面镜相比,它们有一个好处是,把光束反射回与镜面轻微倾斜或横向偏移无关的倾角方向。当沿着测量路径移动可移动的三垂面反射镜时,测量光束的光路随着变化。因此两束光通过第二个路径穿过分光镜时,干涉现象构成与不构成相互变化。这样全自动精密二极管检测到相应明暗变化的干涉信号
|
合作站点:
合作站点:
合作站点:
合作站点:
|
|