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测量金相试样抛光机仪器的分辨率-测量形状、尺寸和表面质量 实际接触面积的测定方法和测量仪器在实际的研究工作和工艺过程中，常用三种方法测定实际接触面积，即信息法、光测法和电测法。 采用第品种方法时，要用染料、放射性物质以及金属箔和细丝作为实际接触的信息物。在接触过程中，由于受力的作用，信息物的形状、尺寸和表面质量发生变化或者在所研究的表面上留下痕迹，据以判断实际接触区的形状和尺寸。 这种方法的分辨率和可靠性主要取决于信息物的层厚。它的厚度应为表面不平度高度的几分之一。否则，不平度将被信息物所填满，而只有表面上高度超过信息层厚处的接触区才显示出来。所用的信息物层厚为0.01---50微米。 在***/种方法中，用放射性同位素量有发展前途，如使用得当，它在寻找实际接触点时能保证有很高的分辨率和可靠性。 光测法的基础是: 当所研究的表面与透明材料的试样接触时，接触点上全内反射遭到破坏的现象; 当光线从一种介质转到另一种拆射系数不同的介质时光的反射和散射现象;将光谱上纯的电弧碳素电极放在真空室中进行蒸发，可获得碳膜。用这种方法涂致的膜具有很薄的非晶结构，能精确地复现十分鲜明的表面形貌。 用这种方法很易用肉眼看出厚几十埃的膜。这种方法无需复杂的设备、具有很高的分辨率，并能测定表面上粗糙度达9 -10级的接触面积。 显影法制定的先决条件是，通过各种研究所发现的与金属物理状态有关的金属电势发生某种变化。这种变化在冷作硬化时非常明显。经冷加工的金属通常要比退火状态稍差。经过不均匀
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