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相差以及荧光集一体的光学金相试样抛光机的应用特点 荧光金相试样抛光机荧光金相试样抛光机检术中另一种类型的可见光金相试样抛光机检术，其应用率正在迅速增长。荧光金相试样抛光机检术中，用于照射标本的光线，为某一种波长的光线。所见到的影像，是一种分子发射的结果，这种分子可吸收初级激发光线，然后再以射出波长较长、能量较低的光线。在聚光器下面和物镜上面各放置适当的滤片，以保证好象是处于“自身发光的”状态。次级发射可来自标本中天然存在的“荧光物”，或来自引入、与标本的某些特殊成分相结合的荧光染料，或者来自与特异抗体相连结的荧光染料，由于荧光影像所固有的高度反差和特异性，因此，荧光金相试样抛光机技术是将来大有前途和十分重要的一种全自动精密金相切割机技术。 相差金相试样抛光机相差金相试样抛光机是一种很重要的光学设计，它可把肉眼不能观察的折射率的微小差异，转换成可以看到的强度差异。 因此相差金相试样抛光机可观察活上海金相抛光机的某些成分，而在通常情况下，这些成分只有在已死的染色标本上才能看到（图1-7 ），光学金相试样抛光机的影像平面内，来自相当于带有志其四周不同折射指数的标本透明区域的光线，是处于周围介质光线的相位之外，但是，通常的光学金相试样抛光机对这些相位差异并不敏感，所以，在这些各部结构之间不显示强度差异，因而没有反差。相差金相试样抛光机配备有特殊光栏、吸收板和相位转换板，这些装置可用来：（1 ）部分地区分背景照明光线和来自小的透明标本微细结构的、在宽角上分散绕射的光线；以及 （2 ）通过在影像平面上光线的相互作用这种方式，转换这两种光线成分的相位和强度，从而在原先只存在相位差异的部位，产生强度差异和反差。 相差金相试样抛光机的几个主要缺点为：（1 ）由于不能完全区分背景光线和绕射光线，其影像周围可出现晕；（2 ）吸是来自小的物体或来自边缘部分的、快速变换的延迟的相位差异。
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