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| 铁谱分析仪-固体颗粒尺寸的测量光学金相试样抛光机 |
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铁谱分析仪-固体颗粒尺寸的测量光学金相试样抛光机 利用电子扫描金相试样抛光机和x 射线能谱仪。可以对大多数磨损颗粒的成分作出准确的判别断，但由于这种方法操作繁琐，设备昂贵。因此，通常采用较为廉价的光学金相试样抛光机作为磨损颗粒的识别工具。后者还具有直观、快速和方便等优点。 固体颗粒尺寸的测量 一、测量时所用的光源用偏振光测量，将金相试样抛光机上的反射光偏振器旋转一角度，直至谱片上未浸润过油液的干净部分呈***暗色为止，此时谱片上其它黑暗区域上的颖粒因其消偏作用而显得明亮。 二、长与宽尺寸的测量转动金相试样抛光机载物台，使所测颗粒的长度位于视域标线的纵向。操纵载物台使标线切于颗粒的一端边缘，记下座标位x 读数。再纵向地操纵载物台，使同一标线切于颗粒纵向的另一边缘。记下座标位置读数。此二次座标位置读数之差。即为被测颗粒的长度。 同理沿横向进行类似操作。便可测量出该颗粒的宽度。 三、厚度的测量作金相试样抛光机对焦的精调旋钮上，有两只微米级的刻度盘。可用来确定顺拉的厚度。方法是： 1 ）先把焦点聚在谱片的上表面。实际上近似地以一极小颗粒作为参考点，对它聚焦。效果相同而更为方便，此时记下精调旋钮的读数（位于载物台升降机构上）； 2 ）把焦点聚在待测颗粒的顶端，再记下在精调旋钮的读数。 这两次读数之差，便是待测颗粒的厚度。
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